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Analytik an Solarzellen

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#40327 / #4

Seit SS 2018

Deutsch

Analytik an Solarzellen

6

Szyszka, Bernd

Benotet

Portfolioprüfung

Deutsch

Zugehörigkeit


Fakultät IV

Institut für Hochfrequenz und Halbleiter-Systemtechnologien

34325800 FG S-Professur Technologie für Dünnschicht-Bauelemente

Keine Angabe

Kontakt


HFT 5-2

Szyszka, Bernd

bernd.szyszka@tu-berlin.de

http://www.tfd.tu-berlin.de/menue/studium_lehre/

Lernergebnisse

Die Studierenden haben Kenntnisse über die Analyse von Solarzellen und -modulen. Sie sind anschließend in der Lage, zur Bestimmung von charakteristischen Solarzellenparametern und relevanten Materialeigenschaften eine geeignete Analysemethode auszuwählen, anzuwenden und die erhaltenen Ergebnisse kritisch zu bewerten und einzuordnen.

Lehrinhalte

Das Modul behandelt die verschiedenen Charakterisierungsmethoden, die in der modernen Photovoltaikindustrie und -forschung zur Anwendung kommen. Angefangen mit Analysen von kompletten Bauelementen wird ein Überblick über verschiedene strukturelle, kompositionelle, elektrische und optoelektronische Materialcharakterisierungstechniken gegeben, wobei ein Schwerpunkt die Elektronenmikroskopie ist. Den Abschluss bilden Bauelementsimulationen. Begleitend werden ausgewählte Analysemethoden in Praktikumsversuchen vertieft.

Modulbestandteile

Pflichtbereich

Die folgenden Veranstaltungen sind für das Modul obligatorisch:

LehrveranstaltungenArtNummerTurnusSpracheSWS ISIS VVZ
Physik der Dünnschichtsolarzellen und moderne AnalysenmethodenVL3237L188WiSede2
Solarzellen-MesstechnikPRohneSoSede2
ISIS-Kurssuche nach Veranstaltungen des Moduls

Arbeitsaufwand und Leistungspunkte

Physik der Dünnschichtsolarzellen und moderne Analysenmethoden (VL):

AufwandbeschreibungMultiplikatorStundenGesamt
Präsenzzeit15.02.0h30.0h
Vor-/Nachbereitung15.04.0h60.0h
90.0h(~3 LP)

Solarzellen-Messtechnik (PR):

AufwandbeschreibungMultiplikatorStundenGesamt
Präsenzzeit15.02.0h30.0h
Vor-/Nachbereitung15.04.0h60.0h
90.0h(~3 LP)
Der Aufwand des Moduls summiert sich zu 180.0 Stunden. Damit umfasst das Modul 6 Leistungspunkte.

Beschreibung der Lehr- und Lernformen

Das Modul wird in Form einer Vorlesung und mehrerer Praktikumsversuche in Kleingruppen durchgeführt.

Voraussetzungen für die Teilnahme / Prüfung

Wünschenswerte Voraussetzungen für die Teilnahme an den Lehrveranstaltungen:

Grundkenntnisse der Halbleiterphysik

Verpflichtende Voraussetzungen für die Modulprüfungsanmeldung:

Dieses Modul hat keine Prüfungsvoraussetzungen.

Abschluss des Moduls

Benotung

Benotet

Prüfungsform

Portfolioprüfung

Art der Portfolioprüfung

100 Punkte insgesamt

Sprache(n)

Deutsch

Prüfungselemente

NamePunkteKategorieDauer/Umfang
Arbeit im Labor (Lernprozessevaluation)6Keine AngabeKeine Angabe
Eingangstest (Punktuelle Leistungsabfrage)7Keine AngabeKeine Angabe
mündlichen Prüfung (Punktuelle Leistungsabfrage)50Keine AngabeKeine Angabe
mündliche Rücksprache (Lernprozessevaluation)9Keine AngabeKeine Angabe
Protokolle (Ergebnisprüfung)28Keine AngabeKeine Angabe

Notenschlüssel

Notenschlüssel »Notenschlüssel 2: Fak IV (2)«

Gesamtpunktzahl1.01.31.72.02.32.73.03.33.74.0
100.0pt95.0pt90.0pt85.0pt80.0pt75.0pt70.0pt65.0pt60.0pt55.0pt50.0pt

Prüfungsbeschreibung (Abschluss des Moduls)

Die bewerteten Prüfungselemente setzen sich zusammen aus: - einer mündlichen Prüfung (Punktuelle Leistungsabfrage) zur Vorlesung - einem Eingangstest (Punktuelle Leistungsabfrage), Vorbereitung und Ausarbeitung der Versuche im Protokoll (Ergebnisprüfung), der Arbeit im Labor und einer mündlichen Rücksprache (Lernprozessevaluation) für das Praktikum Für die Gesamtnote wird der Notenschlüssel 2 der Fakultät IV verwendet.

Dauer des Moduls

Für Belegung und Abschluss des Moduls ist folgende Semesteranzahl veranschlagt:
2 Semester.

Dieses Modul kann in folgenden Semestern begonnen werden:
Winter- und Sommersemester.

Maximale teilnehmende Personen

Die maximale Teilnehmerzahl beträgt 30.

Anmeldeformalitäten

Informationen zur Vorlesung sind direkt bei Dr. Daniel Abou-Ras bzw. dem Sekretariat der AG Lehmann, Institut für Optik und Atomare Physik, Raum ER 290 zu erfragen. Informationen zur Praktikumsanmeldung mit Gruppeneinteilung sowie zur Benotung sind im Internet auf der Homepage des Fachgebiets und als Aushang am Schwarzen Brett des Sekretariats E4.HLB zu finden - URL: www.hlb.tu-berlin.de

Literaturhinweise, Skripte

Skript in Papierform

Verfügbarkeit:  nicht verfügbar

 

Skript in elektronischer Form

Verfügbarkeit:  verfügbar
Zusätzliche Informationen:
Praktikum: Wird auf dem ISIS Kurs des entsprechenden Semesters bereitgestellt

 

Literatur

Empfohlene Literatur
Abou-Ras, Daniel; Kirchartz, Thomas; Rau, Uwe (Hrsg.), Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells, Wiley VCH, Berlin

Zugeordnete Studiengänge


Diese Modulversion wird in folgenden Studiengängen verwendet:

Studiengang / StuPOStuPOsVerwendungenErste VerwendungLetzte Verwendung
Computer Engineering (M. Sc.)151SS 2018SoSe 2026
Elektrotechnik (M. Sc.)170SS 2018SoSe 2026
Medientechnik (M. Sc.)112WiSe 2023/24SoSe 2026
Regenerative Energiesysteme (M. Sc.)14WiSe 2024/25SoSe 2026
Wirtschaftsingenieurwesen (M. Sc.)121SS 2018SoSe 2026

Sonstiges

Keine Angabe