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Veranstaltung
Applied Computer Vision (Klausur)
Applied Computer Vision (Klausur)
Veranstaltung
Prüfungsnummer
0433 L 170
Gesamt-Lehrleistung
8,00 UE
Semester
SoSe 2022
Veranstaltungsformat
Prüfung / Prüfungsklausur
Gruppe
Ersttermin, 26.07.2022
Organisationseinheiten
Technische Universität Berlin
↳
Fakultät IV
↳
Institut für Technische Informatik und Mikroelektronik
↳
34341600 FG Computer Vision and Remote Sensing
URLs
Label
Ansprechpartner*innen
Verantwortliche
Sprache
Deutsch
Studiengangszuordnungen und Module
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Termine (2)
Zeitraum
Di. 26.07.22, 08:00 - 11:00
Ort
H 2032
(
Charlottenburg
)
Organisationseinheiten
34341600 FG Computer Vision and Remote Sensing
Lehrleistung
4,00 UE
Einzeltermine ausklappen
Zeitraum
Di. 04.10.22, 09:00 - 12:00
Ort
H 0110
(
Charlottenburg
)
Organisationseinheiten
34341600 FG Computer Vision and Remote Sensing
Lehrleistung
4,00 UE
Einzeltermine ausklappen
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Lehrformat
Jedes Format bekommt eine Farbe
Campus
Jeder Campus bekommt eine Farbe
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Mo.
Di.
Applied Computer Vision (Klausur)
Prüfungsnummer
0433 L 170
Format
Prüfungsklausur
Sprache
Deutsch
Gruppe
Ersttermin, 26.07.2022
Organisationseinheiten
34341600 FG Computer Vision and Remote Sensing
Planungskommentar
-
Datum/Uhrzeit
Di. 26.07.22, 08:00 - 11:00
Ort
H 2032 (CH)
Vor-/Nachbereitungsdauer
0min/0min
Applied Computer Vision (Klausur)
Ersttermin, 26.07.2022
H 2032
(Charlottenburg)
Übersicht nach...
OE “34341600 FG Computer Vision and Remote Sensing”
Raum “H 2032”
Applied Computer Vision (Klausur)
Prüfungsnummer
0433 L 170
Format
Prüfungsklausur
Sprache
Deutsch
Gruppe
Ersttermin, 26.07.2022
Organisationseinheiten
34341600 FG Computer Vision and Remote Sensing
Planungskommentar
-
Datum/Uhrzeit
Di. 04.10.22, 09:00 - 12:00
Ort
H 0110 (CH)
Vor-/Nachbereitungsdauer
0min/0min
Applied Computer Vision (Klausur)
Ersttermin, 26.07.2022
H 0110
(Charlottenburg)
Übersicht nach...
OE “34341600 FG Computer Vision and Remote Sensing”
Raum “H 0110”
Mi.
Do.
Fr.
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