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Automatic Image Analysis (Klausureinsicht / Exam review)

Veranstaltung

Prüfungsnummer
Gesamt-Lehrleistung 1,33 UE
Semester WiSe 2025/26
Veranstaltungsformat Prüfung / Klausureinsicht / Exam review
Gruppe (Klausureinsicht / Exam review)
Organisationseinheiten Technische Universität Berlin
↳ Fakultät IV
↳     Institut für Technische Informatik und Mikroelektronik
↳         34341600 FG Computer Vision and Remote Sensing
URLs
Label
Ansprechpartner*innen
Herrmann, Heike
Verantwortliche
Sprache Deutsch

Termine (1)


Di. 18.11.25, 13:00 - 14:00

Charlottenburg
,
MAR 0.015

34341600 FG Computer Vision and Remote Sensing

1,33 UE
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Legende
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Automatic Image Analysis
(Klausureinsicht / Exam review)
Charlottenburg, MAR 0.015
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