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Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik

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#40260 / #7

Seit WiSe 2024/25

Deutsch, Englisch

Quality and Reliability in Semiconductor Engineering
Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik

6

Thewes, Roland

Benotet

Mündliche Prüfung

Englisch

Zugehörigkeit


Fakultät IV

Institut für Energie und Automatisierungstechnik

34311700 FG Sensorik und Aktuatorik / Messtechnik

Keine Angabe

Kontakt


E 3

Kerst, Uwe

roland.thewes@tu-berlin.de

http://www.se.tu-berlin.de/menue/startseite/

Lernergebnisse

Die Studierenden kennen und verstehen die vielfältigen Aspekte und grundlegenden Methoden modernen Qualitätswesens. Ein Schwerpunkt liegt in der Erarbeitung statistischer Verfahren, wie sie z.B. in der Halbleiterfertigung angewendet werden. Sie sind ist in der Lage die die qualitätsrelevanten Fragestellungen in einem industriellen Prozess (Entwurf und Fertigung) zu bearbeiten und verstehen die notwendigen quantititativen und qualitativen Werkzeuge.

Lehrinhalte

Die Veranstaltung "Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik" befasst sich mit dem Qualitätsbegriff im Ingenieurswesen am Beispiel der Halbleiterindustrie und deren Besonderheiten. Eine Einbettung des Stoffs in die "historisch" gewachsenen Strukturen, erleichtert die Verinnerlichung. Es wird in die Statistik und Wahrscheinlichkeitstheorie eingeführt und auf Themen des Qualitätsmanagements inklusive der Zuverlässigkeitstheorie angewendet. Die Inhalte aus der Vorlesung werden durch Übungsaufgaben ergänzt und vertieft.

Modulbestandteile

Pflichtbereich

Die folgenden Veranstaltungen sind für das Modul obligatorisch:

LehrveranstaltungenArtNummerTurnusSpracheSWS ISIS VVZ
Quality and Reliability in Semiconductor EngineeringUESoSeen2
Quality and Reliability in Semiconductor EngineeringVLSoSeen2
ISIS-Kurssuche nach Veranstaltungen des Moduls

Arbeitsaufwand und Leistungspunkte

Quality and Reliability in Semiconductor Engineering (UE):

AufwandbeschreibungMultiplikatorStundenGesamt
Präsenzzeit15.02.0h30.0h
Vor-/Nachbereitung15.04.0h60.0h
90.0h(~3 LP)

Quality and Reliability in Semiconductor Engineering (VL):

AufwandbeschreibungMultiplikatorStundenGesamt
Präsenzzeit15.02.0h30.0h
Vor-/Nachbereitung15.04.0h60.0h
90.0h(~3 LP)
Der Aufwand des Moduls summiert sich zu 180.0 Stunden. Damit umfasst das Modul 6 Leistungspunkte.

Beschreibung der Lehr- und Lernformen

Die Lehrinhalte werden durch Vorlesungen und Übungen vermittelt. Am Ende der Lehrveranstaltung präsentieren die Studierenden ein gewähltes Thema zum Thema Qualitätsmanagement.

Voraussetzungen für die Teilnahme / Prüfung

Wünschenswerte Voraussetzungen für die Teilnahme an den Lehrveranstaltungen:

Interesse an Qualitätsfragen, Statisitk und Managementthemen

Verpflichtende Voraussetzungen für die Modulprüfungsanmeldung:

Dieses Modul hat keine Prüfungsvoraussetzungen.

Abschluss des Moduls

Benotung

Benotet

Prüfungsform

Mündliche Prüfung

Sprache(n)

Englisch

Dauer/Umfang

40 min

Dauer des Moduls

Für Belegung und Abschluss des Moduls ist folgende Semesteranzahl veranschlagt:
1 Semester.

Dieses Modul kann in folgenden Semestern begonnen werden:
Sommersemester.

Maximale teilnehmende Personen

Dieses Modul ist nicht auf eine Anzahl Studierender begrenzt.

Anmeldeformalitäten

MTS oder anderes zugelassenes elektronisches System sowie Terminvereinbarung.

Literaturhinweise, Skripte

Skript in Papierform

Verfügbarkeit:  nicht verfügbar

 

Skript in elektronischer Form

Verfügbarkeit:  verfügbar
Zusätzliche Informationen:
Wird über den entsprechenden ISIS-Kurs des Semesters bereitgestellt.

 

Literatur

Empfohlene Literatur
Douglas C. Montgomery. Statistical Quality Control. John Wiley & Sons, New York, 2005
Farid N. Najm E. Ajith Amerasekara. Failure Mechanisms in Semiconductor Devices. John Wiley & Sons, New York, 1997
H.-J. Mittag. Qualitätsregelkarten. Carl Hanser Verlag, München, 1993
Thilo Pfeifer. „Qualitätsmanagement“ Strategien, Methoden, Techniken. Carl Hanser Verlag, München, 2001

Zugeordnete Studiengänge


Diese Modulversion wird in folgenden Studiengängen verwendet:

Studiengang / StuPOStuPOsVerwendungenErste VerwendungLetzte Verwendung
Computer Engineering (M. Sc.)14WiSe 2024/25SoSe 2025
Elektrotechnik (M. Sc.)14WiSe 2024/25SoSe 2025
Medientechnik (M. Sc.)14WiSe 2024/25SoSe 2025

Studierende anderer Studiengänge können dieses Modul ohne Kapazitätsprüfung belegen.

Sonstiges

Dieses Modul kann nicht besucht werden, wenn die enthaltene Vorlesung bereits im Modul "Methoden und Anwendungen der Halbleitertechnik" angerechnet wurde.