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#40250 / #8

Seit SoSe 2026

Deutsch, Englisch

Selected Applications and Methods in Semiconductor Engineering
Methoden und Anwendungen der Halbleitertechnik

6

Thewes, Roland

Benotet

Mündliche Prüfung

Englisch

Zugehörigkeit


Fakultät IV

Institut für Energie und Automatisierungstechnik

34311700 FG Sensorik und Aktuatorik / Messtechnik

Keine Angabe

Kontakt


E 3

Kerst, Uwe

lehre@se.tu-berlin.de

Lernergebnisse

Grundlegende Kenntnisse der prinzipiellen Methoden des “energy harvesting”. Anwendung von “energy harvesters” zur Energieversorgung von terrestrischen und Weltraum basierten Sensorsystemen. Fehlerbilder in integrierten Halbleiterschaltungen und geeignete Methoden zur Lokalisierung und Charakterisierung sind verstanden. Darüberhinaus sind Design-for-Test (DFT)-Konzepte, z.B. ScanChain oder Built-In Self-Test (BIST)-Mechanismen bekannt. Die Bedeutung sicherheitskritischer Aspekte bei der physikalischen Chipanalyse (Hardware-Security) sind im Grundsatz erkannt.

Lehrinhalte

Die Veranstaltung "Energy Harvesting" beschäftigt sich mit den grundlegenden Prinzipien der Energieerzeugung aus der Umwelt, wie: Photovoltaik, Alpha und Betavoltaik, Triboelektrik, Thermoelektrik. Des Weiteren wird deren Anwendung zur Stromversorgung von Sensorsystemen mit geringem Leistungsbedarf diskutiert mit besonderer Beruecksichtigung von Anwendungen im Weltraum. In der Vorlesung "Debug of Integrated Circuits on Silicon Level" werden moderne Analysemethoden zur Fehleranalyse von integrierten Schaltungen vorgestellt. Das beinhaltet auch spezielle Teststrukturen (DFT) und sicherheitsrelevante Möglichkeiten der Fehleranalyse. Dabei werden deren jeweilige Funktionsweise und Wechselwirkung mit dem IC genauer betrachtet.

Modulbestandteile

Wahlpflichtbereich

Aus den folgenden Veranstaltungen müssen 2 Veranstaltungen abgeschlossen werden.

LehrveranstaltungenArtNummerTurnusSpracheSWS ISIS VVZ
Debug of Integrated Circuits on Silicon LevelVL0431 L 500WiSeen2
Energy HarvestingVLSoSede, en2

Arbeitsaufwand und Leistungspunkte

Debug of Integrated Circuits on Silicon Level (VL):

AufwandbeschreibungMultiplikatorStundenGesamt
Präsenzzeit15.02.0h30.0h
Vor-/Nachbereitung15.04.0h60.0h
90.0h(~3 LP)

Energy Harvesting (VL):

AufwandbeschreibungMultiplikatorStundenGesamt
Präsenzzeit15.02.0h30.0h
Vor-/Nachbereitung15.04.0h60.0h
90.0h(~3 LP)
Der Aufwand des Moduls summiert sich zu 180.0 Stunden. Damit umfasst das Modul 6 Leistungspunkte.

Beschreibung der Lehr- und Lernformen

Die Lehrinhalte werden in Vorlesungen (VL) vermittelt .

Voraussetzungen für die Teilnahme / Prüfung

Wünschenswerte Voraussetzungen für die Teilnahme an den Lehrveranstaltungen:

Grundkenntnisse in Halbleiterbauelementen, deren Prozessierung und Physik.

Verpflichtende Voraussetzungen für die Modulprüfungsanmeldung:

Dieses Modul hat keine Prüfungsvoraussetzungen.

Abschluss des Moduls

Benotung

Benotet

Prüfungsform

Mündliche Prüfung

Sprache(n)

Englisch

Dauer/Umfang

45 Minuten

Dauer des Moduls

Für Belegung und Abschluss des Moduls ist folgende Semesteranzahl veranschlagt:
2 Semester.

Dieses Modul kann in folgenden Semestern begonnen werden:
Winter- und Sommersemester.

Maximale teilnehmende Personen

Dieses Modul ist nicht auf eine Anzahl Studierender begrenzt.

Anmeldeformalitäten

Anmeldung in MTS.

Literaturhinweise, Skripte

Skript in Papierform

Verfügbarkeit:  nicht verfügbar

 

Skript in elektronischer Form

Verfügbarkeit:  verfügbar
Zusätzliche Informationen:
Wird über den entsprechenden ISIS-Kurs des Semesters bereitgestellt.

 

Literatur

Empfohlene Literatur
Keine empfohlene Literatur angegeben

Zugeordnete Studiengänge


Diese Modulversion wird in folgenden Studiengängen verwendet:

Studiengang / StuPOStuPOsVerwendungenErste VerwendungLetzte Verwendung
Computer Engineering (M. Sc.)12SoSe 2026SoSe 2026
Elektrotechnik (M. Sc.)12SoSe 2026SoSe 2026
Medientechnik (M. Sc.)12SoSe 2026SoSe 2026

Studierende anderer Studiengänge können dieses Modul ohne Kapazitätsprüfung belegen.

Sonstiges

Das Modul kann nicht gewählt werden, wenn die einzelne Vorlesung "Debug of Integrated Circuits on Silicon Level "(VL) bereits im Gesamtmodul Debug von Halbleiterbauelementen in integrierten Schaltungen (Debug of Integrated Circuits on Silicon Level) (VL+PR) angerechnet wurde. Die Vorlesung "Energy Harvesting" wird nicht regelmäßig angeboten.