Moses - Modulbeschreibung ohne Titel

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Modul / Version
#40210 / #5

Gültigkeit
WiSe 2020/21 - SoSe 2023

Verfügbare Sprache(n)
Englisch

Titel des Moduls
Design, Simulation and Test of Microsystems I

Leistungspunkte
6

Modulverantwortliche*r
Schneider-Ramelow, Martin

Benotung
Benotet

Prüfungsform
Portfolioprüfung

Lehrsprache(n)
Englisch

Zugehörigkeit

Fakultät
Fakultät IV

Institut
Institut für Hochfrequenz und Halbleiter-Systemtechnologien

Fachgebiet
34325000 FG Werkstoffe der hetero-Systemintegration

Prüfungsausschuss
Keine Angabe

Kontakt

Sekretariat
TIB 4/2-1

Ansprechpartner*in
Krahn, Sandra

E-Mail-Adresse
lehre@whs.tu-berlin.de

Webseite

https://www.tmp.tu-berlin.de/menue/lehre/

Diese Modulbeschreibung ist nicht oder nicht vollständig auf deutsch hinterlegt.

Es wird auf Wunsch trotzdem der Inhalt der unvollständigen Spracheversion angezeigt.

Diese Modulbeschreibung gilt nicht im aktuellen Semester.

Die Modulbeschreibung gilt nur für den Zeitraum WiSe 2020/21 - SoSe 2023.

Lernergebnisse

Nach dem erfolgreichen Abschluss des Moduls sind die Studierenden in der Lage • zentrale Begriffe des Entwurfs und des Tests integrierter Elektroniksysteme zu erörtern. • Vorgehensweisen für Entwurf und Test anwendungsspezifisch auszuwählen. • Simulationswerkzeuge für den Systementwurf zu beschreiben. • Teststrategien für integrierte Systeme aus den Bereichen Hochfrequenz, Sensorknoten und optische Systeme zu entwickeln. • wissenschaftliche Fragestellungen in diesem Feld zu formulieren und systematisch Ergebnisse zur Validierung einer Annahme zu produzieren und zu veröffentlichen. • eigenständig Forschungsansätze zu verfolgen und fremde wissenschaftliche Texte einzuschätzen. Fachkompetenz: 50% Methodenkompetenz: 30% Sozial-kommunikative Kompetenz: 20%

Lehrinhalte

Das Modul vermittelt die Grundlagen für Entwurf, Aufbau und Test von Mikrosystemen für die Bereiche Hochfrequenz, Sensorknoten, smarte sowie optische Systeme. Das Modul behandelt anwendungsspezifisch die Vorgehensweisen und Prozesse für den Entwurf integrierter Systeme mit direkter Verknüpfung zu den Herstellungstechnologien. Hierbei werden analytische sowie numerische Methoden in der Theorie vermittelt und im praktischen Teil angewendet. Der Fokus liegt auf der elektrischen Signalleitung und der Signalintegrität. Auf das Zusammenspiel von Entwurf, Simulation und Test wird eingegangen und eine Übersicht über die benötigten Werkzeuge während der einzelnen Schritte wird gegeben.

Modulbestandteile

Pflichtbereich

Die folgenden Veranstaltungen sind für das Modul obligatorisch:

Lehrveranstaltungen	Art	Nummer	Turnus	Sprache	SWS	ISIS	VVZ
Design, Simulation and Test of Microsystems	IV	0431 L 712	WiSe/SoSe	en	6

ISIS-Kurssuche nach Veranstaltungen des Moduls

Arbeitsaufwand und Leistungspunkte

Design, Simulation and Test of Microsystems (IV):

Aufwandbeschreibung	Multiplikator	Stunden	Gesamt
Attendance	15.0	5.0h	75.0h
Portfolioprüfung	1.0	15.0h	15.0h
Preparation/ Follow-up	15.0	6.0h	90.0h
			180.0h(~6 LP)

Der Aufwand des Moduls summiert sich zu 180.0 Stunden. Damit umfasst das Modul 6 Leistungspunkte.

Beschreibung der Lehr- und Lernformen

Die Lehrinhalte werden als integrierte Lehrveranstaltung vermittelt: 40% Input über Referate/Vorlesung, 50% Kleingruppenarbeit in der Präsenzphase, 10% Präsentationen der Studierenden mit Feedback. Referate und Präsentationen der Studierenden werden zu Themen der Veranstaltung selbständig ausgearbeitet. Anleitung durch Dozent*in.

Voraussetzungen für die Teilnahme / Prüfung

Wünschenswerte Voraussetzungen für die Teilnahme an den Lehrveranstaltungen:

Keine.

Verpflichtende Voraussetzungen für die Modulprüfungsanmeldung:

Dieses Modul hat keine Prüfungsvoraussetzungen.

Abschluss des Moduls

Benotung

Benotet

Prüfungsform

Portfolioprüfung

Art der Portfolioprüfung

100 Punkte insgesamt

Sprache(n)

Englisch

Prüfungselemente

Name	Punkte	Kategorie	Dauer/Umfang
Ergebnisprüfung: Referat	30	mündlich	Keine Angabe
Laborbericht	30	schriftlich	Keine Angabe
Lernprozessevaluation: Mündliche Rücksprache	40	mündlich	Keine Angabe

Notenschlüssel

Notenschlüssel »Notenschlüssel 2: Fak IV (2)«

Gesamtpunktzahl	1.0	1.3	1.7	2.0	2.3	2.7	3.0	3.3	3.7	4.0
100.0pt	95.0pt	90.0pt	85.0pt	80.0pt	75.0pt	70.0pt	65.0pt	60.0pt	55.0pt	50.0pt

Dauer des Moduls

Für Belegung und Abschluss des Moduls ist folgende Semesteranzahl veranschlagt:
1 Semester.

Dieses Modul kann in folgenden Semestern begonnen werden:
Winter- und Sommersemester.

Maximale teilnehmende Personen

Dieses Modul ist nicht auf eine Anzahl Studierender begrenzt.

Anmeldeformalitäten

Keine.

Literaturhinweise, Skripte

Skript in Papierform

Verfügbarkeit: nicht verfügbar

Skript in elektronischer Form

Verfügbarkeit: verfügbar

Literatur

Empfohlene Literatur
Keine empfohlene Literatur angegeben

Zugeordnete Studiengänge

Semester:

Zeige auch ausgelaufene Studiengänge und StuPOs

Diese Modulversion wird in folgenden Studiengängen verwendet:

	Studiengang / StuPO	StuPOs	Verwendungen	Erste Verwendung	Letzte Verwendung
Dieses Modul findet in keinem Studiengang Verwendung.

Studierende anderer Studiengänge können dieses Modul ohne Kapazitätsprüfung belegen.

Sonstiges

Keine Angabe