Moses - Methoden und Anwendungen der Halbleitertechnik

Anzeigesprache

Diese Modulbeschreibung gilt nicht im aktuellen Semester.

Die Modulbeschreibung gilt nur für den Zeitraum SS 2017 - WS 2017/18. Die Version für das aktuelle Semester (SoSe 2024) finden Sie hier: Modulbeschreibung des SoSe 2024

Modul / Version:
#40250 / #3

Gültigkeit:
SS 2017 - WS 2017/18

Standard-Anzeigesprache:
Deutsch

Titel des Moduls:
Methoden und Anwendungen der Halbleitertechnik

Leistungspunkte:
6

Modulverantwortliche*r:
Boit, Christian

Benotung:
benotet

Prüfungsform:
Mündliche Prüfung

Zugehörigkeit

Fakultät:
Fakultät IV

Institut:
Institut für Energie und Automatisierungstechnik

Fachgebiet:
34311700 FG Sensorik und Aktuatorik / Messtechnik

Prüfungsausschuss:
Keine Angabe

Kontakt

Sekretariat:
E 3

Ansprechpartner*in:
Kerst, Uwe

E-Mail-Adresse:
uwe.kerst@tu-berlin.de

Webseite:

http://www.se.tu-berlin.de/menue/startseite/

Lernergebnisse

Die Studierenden kennen und verstehen die vielfältigen Aspekte und grundlegenden Methoden modernen Qualitätswesens. Ein Schwerpunkt liegt in der Erarbeitung statistischer Verfahren, wie sie z.B. in der Halbleiterfertigung angewendet werden. Sie sind ist in der Lage die die qualitätsrelevanten Fragestellungen in einem industriellen Prozess (Entwurf und Fertigung) zu bearbeiten und verstehen die notwendigen quantititativen und qualitativen Werkzeuge. Grundlegende Kenntnisse zu den aktuellen Themen wie IC Debug für Nanometer-Technologien oder Kohlenstoff-Nanoröhrchen Technologie sind verinnerlicht.

Lehrinhalte

In der Veranstaltung "Ausgewählte Kapitel der Halbleiterbauelemente" werden in Form eines Seminars aktuelle Themen im Bereich der Halbleiterindustrie von den Studierenden selbst erarbeitet und vorgetragen. Die Vorlesung "Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik" befasst sich mit dem Qualitätsbegriff im Ingenieurswesen am Beispiel der Halbleiterindustrie und deren Besonderheiten. Es werden statistische Grundlagen sowie Konzepte des Qualitätsmanagements vermittelt. Eine Einbettung des Stoffs in die "historisch" gewachsenen Strukturen, erleichtert die Verinnerlichung. Bei Interesse kann in einem separaten Modul diese Vorlesung durch eine Übung ergänzt werden. Die Veranstaltung "Carbon nanotube based electronic devices" beschäftigt sich mit den grundlegenden Funktionen von eindimensionalen Kohlenstoffröhrchen und bespricht aktuelle Forschungsinhalte und Anwendungen auf diesem Gebiet. Die Veranstaltung "IC Debug für Nanoscale Technologien" behandelt Forschung zur Methodenentwicklung für interne Signalverfolgung von FinFET-Technologien im GHz-Regime, wo weder optische Wechselwirkungen im nahen IR-Bereich noch gängige Partikelstrahl-Techniken erfolgreich sind. Wege zu neuen Techniken werden hier entwickelt.

Modulbestandteile

Wahlpflicht:

Aus den folgenden Veranstaltungen muss/müssen 6 Leistungspunkte abgeschlossen werden.

Lehrveranstaltungen	Art	Nummer	Turnus	Sprache	SWS
Auf Kohlenstoff-Nanoröhren basierte elektronische Bauelemente (Carbon nanotube based electronic devices)	VL		SoSe	Keine Angabe	2
Ausgewählte Kapitel der Halbleiterbauelemente	SEM	0431 L 000	WiSe/SoSe	Keine Angabe	2
IC Debug für Nanoscale Technologien	VL		WiSe	Keine Angabe	2
Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik	VL		WiSe	Englisch	2

Arbeitsaufwand und Leistungspunkte

Auf Kohlenstoff-Nanoröhren basierte elektronische Bauelemente (Carbon nanotube based electronic devices) (VL):

Aufwandbeschreibung	Multiplikator	Stunden	Gesamt
Präsenzzeit	15.0	2.0h	30.0h
Vor-/Nachbereitung	15.0	4.0h	60.0h
			90.0h(~3 LP)

Ausgewählte Kapitel der Halbleiterbauelemente (SEM):

Aufwandbeschreibung	Multiplikator	Stunden	Gesamt
Präsenzzeit	15.0	1.0h	15.0h
Vor-/Nachbereitung	15.0	5.0h	75.0h
			90.0h(~3 LP)

IC Debug für Nanoscale Technologien (VL):

Aufwandbeschreibung	Multiplikator	Stunden	Gesamt
Präsenzzeit	15.0	2.0h	30.0h
Vor-/Nachbereitung	15.0	4.0h	60.0h
			90.0h(~3 LP)

Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik (VL):

Aufwandbeschreibung	Multiplikator	Stunden	Gesamt
Präsenzzeit	15.0	2.0h	30.0h
Vor-/Nachbereitung	15.0	4.0h	60.0h
			90.0h(~3 LP)

Der Aufwand des Moduls summiert sich zu 180.0 Stunden. Damit umfasst das Modul 6 Leistungspunkte.

Beschreibung der Lehr- und Lernformen

Die Lehrinhalte werden vermittelt in Vorlesungen (VL) und Seminaren (SE).

Voraussetzungen für die Teilnahme / Prüfung

Wünschenswerte Voraussetzungen für die Teilnahme an den Lehrveranstaltungen:

- mathematisch-physikalische Kenntnisse - Interesse an Halbleiter-Eigenschaften sowie an experimentellem Arbeiten Wünschenswerte Voraussetzungen für "IC Debug für Nanoscale Technologien": - Besuch des Moduls "Debug und Analyse von Halbleiterbauelementen"

Verpflichtende Voraussetzungen für die Modulprüfungsanmeldung:

1. Voraussetzung

Modul40248 [Physik und Technologie der Halbleiterbauelemente] bestanden

Abschluss des Moduls

Benotung

benotet

Prüfungsform

Mündliche Prüfung

Sprache

Deutsch

Dauer/Umfang

60 Minuten

Dauer des Moduls

Für Belegung und Abschluss des Moduls ist folgende Semesteranzahl veranschlagt:
1 Semester.

Dieses Modul kann in folgenden Semestern begonnen werden:
Winter- und Sommersemester.

Maximale teilnehmende Personen

Dieses Modul ist nicht auf eine Anzahl Studierender begrenzt.

Anmeldeformalitäten

Prüfungsamt oder ggf. Qispos

Literaturhinweise, Skripte

Skript in Papierform

Verfügbarkeit: nicht verfügbar

Skript in elektronischer Form

Verfügbarkeit: verfügbar

Zusätzliche Informationen:
Wird über den entsprechenden ISIS-Kurs des Semesters bereitgestellt.

Literatur

Empfohlene Literatur
Keine empfohlene Literatur angegeben

Zugeordnete Studiengänge

Semester:

Zeige auch ausgelaufene Studiengänge und StuPOs

Diese Modulversion wird in folgenden Studiengängen verwendet:

	Studiengang / StuPO	StuPOs	Verwendungen	Erste Verwendung	Letzte Verwendung
Dieses Modul findet in keinem Studiengang Verwendung.

Studierende anderer Studiengänge können dieses Modul ohne Kapazitätsprüfung belegen.

Sonstiges

Die enthaltene einzelne Vorlesung "Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik" (VL) kann hier nicht angerechnet werden, falls sie bereits im Gesamtmodul "Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik" (VL+UE) angerechnet wurde.