1. Modulverzeichnis (MTS)
  2. Module
  3. Modulbeschreibung anzeigen

Physik und Technologie der Halbleiterbauelemente

Anzeigesprache
Zur Modulseite PDF generieren

#40248 / #2

SS 2016 - WS 2016/17

Deutsch

Physik und Technologie der Halbleiterbauelemente

6

Boit, Christian

benotet

Schriftliche Prüfung

Zugehörigkeit


Fakultät IV

Institut für Energie und Automatisierungstechnik

34311700 FG Sensorik und Aktuatorik / Messtechnik

Keine Angabe

Kontakt


E 3

Thewes, Roland

roland.thewes@tu-berlin.de

http://www.se.tu-berlin.de/menue/startseite/

Lernergebnisse

Studierende dieses Moduls haben das grundsätzliche Verständnis für hochintegrierte Schaltungen aufbauend auf der Physik des Bauelementverhaltens erworben.

Lehrinhalte

Es werden die halbleitertechnischen Grundlagen der realen Bauelemente der Silizium-Planartechnologie erläutert. Die Darstellung der Silizium-Planartechnologie beginnt mit den Grundprozessen der Halbleitertechnologie. Daran schließt sich nach einer Zusammenstellung der Simulationsbeziehungen der Halbleiterphysik die Beschreibung des elektrischen Verhaltens von realen Widerständen und Kondensatoren, von Halbleiterdioden und Metall-Halbleiterkontakten, schließlich von MOS-Varaktoren, MOS-Transistoren und CMOS-Invertern an. Elektrische Charakterisierung, Zuverlässigkeit und Fehleranalyse werden ebenfalls behandelt.

Modulbestandteile

Pflichtgruppe:

Die folgenden Veranstaltungen sind für das Modul obligatorisch:

LehrveranstaltungenArtNummerTurnusSpracheSWSVZ
Physik und Technologie der HalbleiterbauelementeVL0431 L 008WiSeKeine Angabe2
Physik und Technologie der HalbleiterbauelementeUEWiSeKeine Angabe2

Arbeitsaufwand und Leistungspunkte

Physik und Technologie der Halbleiterbauelemente (VL):

AufwandbeschreibungMultiplikatorStundenGesamt
Präsenzzeit15.02.0h30.0h
Vor-/Nachbereitung15.04.0h60.0h
90.0h(~3 LP)

Physik und Technologie der Halbleiterbauelemente (UE):

AufwandbeschreibungMultiplikatorStundenGesamt
Präsenzzeit15.02.0h30.0h
Vor-/Nachbereitung15.04.0h60.0h
90.0h(~3 LP)
Der Aufwand des Moduls summiert sich zu 180.0 Stunden. Damit umfasst das Modul 6 Leistungspunkte.

Beschreibung der Lehr- und Lernformen

Die Lehrinhalte werden durch Vorlesungen und Übungen vermittelt.

Voraussetzungen für die Teilnahme / Prüfung

Wünschenswerte Voraussetzungen für die Teilnahme an den Lehrveranstaltungen:

- mathematisch-physikalische Kenntnisse - Interesse an den Eigenschaften und Anwendungen von Halbleiterbauelementen - die Inhalte des Modul Halbleiterbauelemente (MTS # 40475) werden vorausgesetzt

Verpflichtende Voraussetzungen für die Modulprüfungsanmeldung:

Dieses Modul hat keine Prüfungsvoraussetzungen.

Abschluss des Moduls

Benotung

benotet

Prüfungsform

Schriftliche Prüfung

Sprache

Deutsch

Dauer/Umfang

Keine Angabe

Dauer des Moduls

Für Belegung und Abschluss des Moduls ist folgende Semesteranzahl veranschlagt:
1 Semester.

Dieses Modul kann in folgenden Semestern begonnen werden:
Wintersemester.

Maximale teilnehmende Personen

Dieses Modul ist nicht auf eine Anzahl Studierender begrenzt.

Anmeldeformalitäten

Prüfungsamt oder ggf. Qispos

Literaturhinweise, Skripte

Skript in Papierform

Verfügbarkeit:  nicht verfügbar

 

Skript in elektronischer Form

Verfügbarkeit:  verfügbar
Zusätzliche Informationen:
Wird auf dem entsprechenden ISIS Kurs des Semesters bereitgestellt.

 

Literatur

Empfohlene Literatur
D. C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control, Wiley, 2005, ISBN 4-716- 6122-8
EDFAS / ASM, Microelectronics Failure Analysis, 2004, ISBN0-87170-804-3
J. Segura and C. F. Hawkins, CMOS Electronics – How it works, how it fails, WileyInterscience, 2004, ISBN 0-471-47669-2

Zugeordnete Studiengänge


Diese Modulversion wird in folgenden Studiengängen verwendet:

Studiengang / StuPOStuPOsVerwendungenErste VerwendungLetzte Verwendung
Dieses Modul findet in keinem Studiengang Verwendung.

Studierende anderer Studiengänge können dieses Modul ohne Kapazitätsprüfung belegen.

Sonstiges

Keine Angabe