Lehrinhalte
-Beugung: Röntgen, Röntgenspektren, Neutronenbeugung, Elektronenbeugung, Phasen-, Textur-, Eigenspannungsanalyse, Versetzungsdichte, Kristallitgrößen, Mikrospannungen, Ausscheidungen, Versetzungsanalysen
-Mikroskopie: LM, REM, TEM, AFM, Rastersondenmikroskopie für Polymerphysik, Nanotechnologie
-Spektroskopie: IR, Raman, NMR, XPS, ESR, ESCA, UV/VIS
-Sonstige Untersuchungsverfahren: Thermische Untersuchungsverfahren und thermophysikalische Eigenschaften, Messverfahren der thermischen Analyse (Wärmeleitfähigkeit, Dilatometrie, thermomechanische Analyse, Kalorimetrie), Grundlagen der zerstörungsfreien Prüfung von Werkstoffen, Oberflächenmorphologische Untersuchungen, Nanolithographie, Oberflächenanalyse (XPS, AES, SIMS, ATR, Drift), ICP, AAS, GD-OES, Trägergas-Heißextraktion, Verbrennungstechnik, RFA, Aufschlüsse, chemische Analytik