Lehrinhalte
Aufbau moderner Transmissionselektronenmikroskope, Elektronenstrahlerzeuger, WW Objekt-Elektronenwelle, Elektronenoptik, Kontrastverfahren, Detektoren, Welle-Teilchen Dualismus, Fouriertransformation, Bildanalyse, Abbildungstheorie, holographische Abbildungsverfahren, Rasterelektronenmikroskopie, Mess- und Analyseverfahren