Lehrinhalte
-Mikroskopie (REM, ESEM, TEM, CLSM, AFM)
-Tomographie und Bildanalyseverfahren
-Tropfenkonturanalyse und Kontaktwinkelmessung
-Atom- und Molekülspektroskopie, Streutechniken (NMR, ESR, MIR, NIR, XRS, XPS, PALS,
SLS, DLS, SANS, SAXS)
-Thermoanalyse
-Rheologische Methoden und Texturcharakterisierung