Lehrinhalte
Aufbau moderner Transmissionselektronenmikroskope, Elektronenstrahlerzeuger, WW Objekt-Elektronenwelle, Elektronenoptik,
Kontrastverfahren, Detektoren, Welle-Teilchen Dualismus, Fouriertransformation, Bildanalyse, Abbildungstheorie, holographische
Abbildungsverfahren, Rasterelektronenmikroskopie, aktuelle Mess- und Analyseverfahren