Lehrinhalte
1. Definition ""Reibung"" als Systembegriff, Festkörpermechanik, Kontakte, Spitze-Probe-Wechselwirkung (I, II) 2. Tribologisch/mechanisch (I) und elektrisch/mechanisch (II) relevante physikalisch-chemische Eigenschaften von Oberflächen 3. Rastersondenmikroskopische Verfahren: Messprinzipien, Technik der Nano- und Mikroskala, präzises Positionieren, Antriebe, Transportmaschinen, Kraftsensoren, Wegsensoren und andere Detektorsysteme (I) 4. Prüftechniken: Ermittlung von Kenngrößen, Fehlerquellen, Bildanalyse (I und II) 5. Prüftechniken (I): Ergänzende bildgebende Verfahren (SEM, TEM, EDX, RAMAN, Interferenzmikrosopie, …) Prüftechniken (II): Abrieb, Nanopartikel, Tribochemie, Triboelektrizität, Nullreibung, Lithographie 6. Abbildung hochfrequenter Prozesse und kombinierte Analyseverfahren der Rasterelektronen- und Rastersondenmikroskopie. (II)