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Lehrveranstaltung
Quantum Sensing using Defect-based Qubits (Praktikum)
Semester
WiSe 2025/26
SoSe 2026
WiSe 2026/27
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Mo.
Di.
Quantum Sensing using Defect-based Qubits (Praktikum)
LV-Nummer
-
Format
Praktikum
Sprache
Englisch
Gruppe
Termingruppe 1
Organisationseinheiten
34321400 FG Halbleiterbauelemente und Mikroelektroniksysteme
Dozierende
Huang, Zhishuo
Datum/Uhrzeit
Di. 14.04 - 14.07.26, wöchentlich, 10:00 - 12:00
Anzahl Termine
14
Ort
Charlottenburg, E-N 220
Vor-/Nachbereitungsdauer
0min/0min
Quantum Sensing using Defect-based Qubits (Praktikum)
Termingruppe 1
Charlottenburg,
E-N 220
Huang, Zhishuo
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OE “34321400 FG Halbleiterbauelemente und Mikroelektroniksysteme”
Raum “E-N 220”
Mi.
Do.
Quantum Sensing using Defect-based Qubits (Praktikum)
LV-Nummer
-
Format
Praktikum
Sprache
Englisch
Gruppe
Termingruppe 1
Organisationseinheiten
34321400 FG Halbleiterbauelemente und Mikroelektroniksysteme
Dozierende
Huang, Zhishuo
Datum/Uhrzeit
Do. 16.04 - 16.07.26, wöchentlich, 10:00 - 12:00
Anzahl Termine
13
Ort
Charlottenburg, E-N 220
Vor-/Nachbereitungsdauer
0min/0min
Quantum Sensing using Defect-based Qubits (Praktikum)
Termingruppe 1
Charlottenburg,
E-N 220
Huang, Zhishuo
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OE “34321400 FG Halbleiterbauelemente und Mikroelektroniksysteme”
Raum “E-N 220”
Fr.
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Name
Format
Quantum Sensing using Defect-based Qubits (Praktikum)
LV / Praktikum
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Termingruppe 1
LV / Praktikum
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OE “34321400 FG Halbleiterbauelemente und Mikroelektroniksysteme”
Di. 14.04 - 14.07.26, wöchentlich, 10:00 - 12:00
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OE “34321400 FG Halbleiterbauelemente und Mikroelektroniksysteme”
Raum “E-N 220”
Do. 16.04 - 16.07.26, wöchentlich, 10:00 - 12:00
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OE “34321400 FG Halbleiterbauelemente und Mikroelektroniksysteme”
Raum “E-N 220”
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