Moses - Lehrveranstaltung

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Mustererkennung und Technische Diagnose (Klausur)
Wiederholung im Folgesemester (Zweitzeitraum Woche 6)
Charlottenburg, H 0104 Elinor-Ostrom-Saal

Mustererkennung und Technische Diagnose (Klausur)
Ersttermin (Erstzeitraum Woche 1, 2)
Charlottenburg, PTZ S001

Mustererkennung und Technische Diagnose (Klausur)
Zweittermin (Erstzeitraum Woche 2, 3)
Charlottenburg, EB 301

Name	Format
Mustererkennung und Technische Diagnose (Klausur)	Prüfung / Klausur / Exam	Export Veranstaltungen exportieren
Ersttermin (Erstzeitraum Woche 1, 2)	Prüfung / Klausur / Exam	Export Veranstaltung exportieren Übersicht nach... OE “34311600 FG Elektronische Mess- und Diagnosetechnik”
Fr. 25.07.25, 14:00 - 16:30		Übersicht nach... OE “34311600 FG Elektronische Mess- und Diagnosetechnik” Raum “PTZ S001”
Wiederholung im Folgesemester (Zweitzeitraum Woche 6)	Prüfung / Klausur / Exam	Export Veranstaltung exportieren Übersicht nach... OE “34311600 FG Elektronische Mess- und Diagnosetechnik”
Fr. 10.10.25, 10:30 - 13:00		Übersicht nach... OE “34311600 FG Elektronische Mess- und Diagnosetechnik” Raum “H 0104 Elinor-Ostrom-Saal”
Zweittermin (Erstzeitraum Woche 2, 3)	Prüfung / Klausur / Exam	Export Veranstaltung exportieren Übersicht nach... OE “34311600 FG Elektronische Mess- und Diagnosetechnik”
Fr. 08.08.25, 14:00 - 16:30		Übersicht nach... OE “34311600 FG Elektronische Mess- und Diagnosetechnik” Raum “EB 301”

Lehrveranstaltung Mustererkennung und Technische Diagnose (Klausur)