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#40260 / #5

WiSe 2020/21 - SoSe 2022

Deutsch

Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik

6

Thewes, Roland

benotet

Mündliche Prüfung

Zugehörigkeit


Fakultät IV

Institut für Energie und Automatisierungstechnik

34311700 FG Sensorik und Aktuatorik / Messtechnik

Keine Angabe

Kontakt


E 3

Kerst, Uwe

roland.thewes@tu-berlin.de

Lernergebnisse

Die Studierenden kennen und verstehen die vielfältigen Aspekte und grundlegenden Methoden modernen Qualitätswesens. Ein Schwerpunkt liegt in der Erarbeitung statistischer Verfahren, wie sie z.B. in der Halbleiterfertigung angewendet werden. Sie sind ist in der Lage die die qualitätsrelevanten Fragestellungen in einem industriellen Prozess (Entwurf und Fertigung) zu bearbeiten und verstehen die notwendigen quantititativen und qualitativen Werkzeuge.

Lehrinhalte

Die Veranstaltung "Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik" befasst sich mit dem Qualitätsbegriff im Ingenieurswesen am Beispiel der Halbleiterindustrie und deren Besonderheiten. Eine Einbettung des Stoffs in die "historisch" gewachsenen Strukturen, erleichtert die Verinnerlichung. Es wird in die Statistik und Wahrscheinlichkeitstheorie eingeführt und auf Themen des Qualitätsmanagements inklusive der Zuverlässigkeitsthorie angewendet. Die Inhalte aus der Vorlesung werden durch Übungsaufgaben ergänzt und vertieft.

Modulbestandteile

Pflichtgruppe:

Die folgenden Veranstaltungen sind für das Modul obligatorisch:

LehrveranstaltungenArtNummerTurnusSpracheSWSVZ
Qualität und Zuverlässigkeit in der HalbleitertechnikVLSoSeEnglisch2
Qualität und Zuverlässigkeit in der HalbleitertechnikUESoSeEnglisch2

Arbeitsaufwand und Leistungspunkte

Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik (VL):

AufwandbeschreibungMultiplikatorStundenGesamt
Präsenzzeit15.02.0h30.0h
Vor-/Nachbereitung15.04.0h60.0h
90.0h(~3 LP)

Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik (UE):

AufwandbeschreibungMultiplikatorStundenGesamt
Präsenzzeit15.02.0h30.0h
Vor-/Nachbereitung15.04.0h60.0h
90.0h(~3 LP)
Der Aufwand des Moduls summiert sich zu 180.0 Stunden. Damit umfasst das Modul 6 Leistungspunkte.

Beschreibung der Lehr- und Lernformen

Die Lehrinhalte werden durch Vorlesungen und Übungen vermittelt. Am Ende der Lehrveranstaltung präsentieren die Studierenden ein gewähltes Thema zum Thema Qualitätsmanagement.

Voraussetzungen für die Teilnahme / Prüfung

Wünschenswerte Voraussetzungen für die Teilnahme an den Lehrveranstaltungen:

- mathematisch-physikalische Kenntnisse - Interesse an Halbleitereigenschaften

Verpflichtende Voraussetzungen für die Modulprüfungsanmeldung:

Dieses Modul hat keine Prüfungsvoraussetzungen.

Abschluss des Moduls

Benotung

benotet

Prüfungsform

Mündliche Prüfung

Sprache

Deutsch

Dauer/Umfang

40min

Dauer des Moduls

Für Belegung und Abschluss des Moduls ist folgende Semesteranzahl veranschlagt:
1 Semester.

Dieses Modul kann in folgenden Semestern begonnen werden:
Sommersemester.

Maximale teilnehmende Personen

Dieses Modul ist nicht auf eine Anzahl Studierender begrenzt.

Anmeldeformalitäten

Prüfungsamt oder ggf. Qispos

Literaturhinweise, Skripte

Skript in Papierform

Verfügbarkeit:  nicht verfügbar

 

Skript in elektronischer Form

Verfügbarkeit:  verfügbar
Zusätzliche Informationen:
Wird über den entsprechenden ISIS-Kurs des Semesters bereitgestellt.

 

Literatur

Empfohlene Literatur
Douglas C. Montgomery. Statistical Quality Control. John Wiley & Sons, New York, 2005
Farid N. Najm E. Ajith Amerasekara. Failure Mechanisms in Semiconductor Devices. John Wiley & Sons, New York, 1997
H.-J. Mittag. Qualitätsregelkarten. Carl Hanser Verlag, München, 1993
Thilo Pfeifer. „Qualitätsmanagement“ Strategien, Methoden, Techniken. Carl Hanser Verlag, München, 2001

Zugeordnete Studiengänge


Diese Modulversion wird in folgenden Studiengängen verwendet:

Studiengang / StuPOStuPOsVerwendungenErste VerwendungLetzte Verwendung
Dieses Modul findet in keinem Studiengang Verwendung.

Studierende anderer Studiengänge können dieses Modul ohne Kapazitätsprüfung belegen.

Sonstiges

Dieses Modul kann nicht besucht werden, wenn die enthaltene Vorlesung bereits im Modul "Methoden und Anwendungen der Halbleitertechnik" angerechnet wurde.