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#40250 / #6

Seit WiSe 2020/21

Deutsch

Methoden und Anwendungen der Halbleitertechnik

6

Thewes, Roland

benotet

Mündliche Prüfung

Zugehörigkeit


Fakultät IV

Institut für Energie und Automatisierungstechnik

34311700 FG Sensorik und Aktuatorik / Messtechnik

Keine Angabe

Kontakt


E 3

Kerst, Uwe

uwe.kerst@tu-berlin.de

Lernergebnisse

Die Studierenden kennen und verstehen die vielfältigen Aspekte und grundlegenden Methoden modernen Qualitätswesens. Ein Schwerpunkt liegt in der Erarbeitung statistischer Verfahren, wie sie z.B. in der Halbleiterfertigung angewendet werden. Sie sind ist in der Lage die die qualitätsrelevanten Fragestellungen in einem industriellen Prozess (Entwurf und Fertigung) zu bearbeiten und verstehen die notwendigen quantititativen und qualitativen Werkzeuge. Grundlegende Kenntnisse der prinzipiellen Methoden des “energy harvesting”. Anwendung von “energy harvesters” zur Energieversorgung von terrestrischen und Weltraum basierten Sensorsystemen.

Lehrinhalte

Die Vorlesung "Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik" befasst sich mit dem Qualitätsbegriff im Ingenieurswesen am Beispiel der Halbleiterindustrie und deren Besonderheiten. Es werden statistische Grundlagen sowie Konzepte des Qualitätsmanagements vermittelt. Eine Einbettung des Stoffs in die "historisch" gewachsenen Strukturen, erleichtert die Verinnerlichung. Bei Interesse kann in einem separaten Modul diese Vorlesung durch eine Übung ergänzt werden. In der Vorlesung "Debug von Halbleiterbauelementen in integrierten Schaltungen (Debug of Integrated Circuits on Silicon Level)" werden moderne Analysemethoden zur Fehleranalyse von integrierten Schaltungen vorgestellt dabei wird deren Funktionsweise und Wechselwirkung mit dem IC genauer betrachtet. Die Veranstaltung "Energy Harvesting" beschäftigt sich mit den grundlegenden Prinzipien der Energieerzeugung aus der Umwelt, wie: Photovoltaik, Alpha und Betavoltaik, Triboelektrik, Thermoelektrik. Des weiteren wird deren Anwendung zur Stromversorgung von Sensorsystemen mit geringem Leistungsbedarf diskutiert mit besonderer Beruecksichtigung von Anwendungen im Weltraum.

Modulbestandteile

Wahlpflicht:

Aus den folgenden Veranstaltungen muss/müssen 2 Veranstaltung(en) abgeschlossen werden.

LehrveranstaltungenArtNummerTurnusSpracheSWSVZ
Debug von Halbleiterbauelementen in integrierten Schaltungen (Debug of Integrated Circuits on Silicon Level)VL0431 L 500SoSeKeine Angabe2
Energy HarvestingVLSoSeDeutsch/Englisch2
Qualität und Zuverlässigkeit in der HalbleitertechnikVLSoSeEnglisch2

Arbeitsaufwand und Leistungspunkte

Debug von Halbleiterbauelementen in integrierten Schaltungen (Debug of Integrated Circuits on Silicon Level) (VL):

AufwandbeschreibungMultiplikatorStundenGesamt
Präsenzzeit15.02.0h30.0h
Vor-/Nachbereitung15.04.0h60.0h
90.0h(~3 LP)

Energy Harvesting (VL):

AufwandbeschreibungMultiplikatorStundenGesamt
Präsenzzeit15.02.0h30.0h
Vor-/Nachbereitung15.04.0h60.0h
90.0h(~3 LP)

Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik (VL):

AufwandbeschreibungMultiplikatorStundenGesamt
Präsenzzeit15.02.0h30.0h
Vor-/Nachbereitung15.04.0h60.0h
90.0h(~3 LP)
Der Aufwand des Moduls summiert sich zu 180.0 Stunden. Damit umfasst das Modul 6 Leistungspunkte.

Beschreibung der Lehr- und Lernformen

Die Lehrinhalte werden vermittelt in Vorlesungen (VL) und Seminaren (SE).

Voraussetzungen für die Teilnahme / Prüfung

Wünschenswerte Voraussetzungen für die Teilnahme an den Lehrveranstaltungen:

Grundkenntnisse in Halbleitebauelementen und deren Physik.

Verpflichtende Voraussetzungen für die Modulprüfungsanmeldung:

Dieses Modul hat keine Prüfungsvoraussetzungen.

Abschluss des Moduls

Benotung

benotet

Prüfungsform

Mündliche Prüfung

Sprache

Deutsch

Dauer/Umfang

60 Minuten

Dauer des Moduls

Für Belegung und Abschluss des Moduls ist folgende Semesteranzahl veranschlagt:
2 Semester.

Dieses Modul kann in folgenden Semestern begonnen werden:
Sommersemester.

Maximale teilnehmende Personen

Dieses Modul ist nicht auf eine Anzahl Studierender begrenzt.

Anmeldeformalitäten

Prüfungsamt oder ggf. Qispos

Literaturhinweise, Skripte

Skript in Papierform

Verfügbarkeit:  nicht verfügbar

 

Skript in elektronischer Form

Verfügbarkeit:  verfügbar
Zusätzliche Informationen:
Wird über den entsprechenden ISIS-Kurs des Semesters bereitgestellt.

 

Literatur

Empfohlene Literatur
Keine empfohlene Literatur angegeben

Zugeordnete Studiengänge


Diese Modulversion wird in folgenden Studiengängen verwendet:

Studiengang / StuPOStuPOsVerwendungenErste VerwendungLetzte Verwendung
Computer Engineering (M. Sc.)116WiSe 2020/21SoSe 2024
Elektrotechnik (M. Sc.)116WiSe 2020/21SoSe 2024
Medientechnik (M. Sc.)14WiSe 2023/24SoSe 2024

Studierende anderer Studiengänge können dieses Modul ohne Kapazitätsprüfung belegen.

Sonstiges

Die enthaltene einzelne Vorlesung "Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik" (VL) kann hier nicht angerechnet werden, falls sie bereits im Gesamtmodul "Qualität und Zuverlässigkeit in der Halbleitertechnik" (VL+UE) angerechnet wurde. Die enthaltene einzelne Vorlesung" Debug von Halbleiterbauelementen in integrierten Schaltungen "Debug of Integrated Circuits on Silicon Level "(VL) kann hier nicht angerechnet werden, falls sie bereits im Gesamtmodul Debug von Halbleiterbauelementen in integrierten Schaltungen (Debug of Integrated Circuits on Silicon Level) (VL+PR) angerechnet wurde.