Lehrinhalte
Im Modul „Messtechnik" wird das grundlegende methodische und anwendungsbasierte Wissen zur Bestimmung physikalischer Größen vermittelt. In der Vorlesung und den Übungen werden die genutzten physikalischen Effekte, die theoretischen Grundlagen und die darauf basierenden Messaufnehmer dargelegt und durch anwendungspraktische Beispiele und Aufgaben verdeutlicht. Ziel der Praktika ist die Anwendung und Vertiefung des theoretischen Wissens aus der Vorlesung anhand messtechnischer Aufgabenstellungen. Das Qualifikationsziel ist die Vermittlung der Fähigkeit, ein messtechnisches Problem zu analysieren, Aufnehmer und Messmethoden für die Lösung des Problems auszuwählen und praktische Lösungen anzubieten und zu realisieren.
In der Vorlesung „Measurement of Non-Electrical Quantities II (MT II)“ werden elementare messtechnische Begriffe, physikalische Effekte, Messprinzipien, Kenngrößen und Übertragungseigenschaften von Messaufnehmern für mechanische, thermische, optische und chemische Größen behandelt. Zudem werden die Ultraschallmesstechnik und Lasermessverfahren vorgestellt. In den Rechenübungen dazu werden zu den einzelnen Kapiteln der Vorlesung Aufgaben gestellt und gelöst. Vorlesung und Übung werden in englischer Sprache abgehalten.
In der IV „Smart Sensors & Actuators I + II" werden Sensoren und Aktuatoren insbesondere auf Silizium und CMOS-Basis besprochen. Die Inhalte erstrecken sich jeweils von festkörperphysikalischen Grundlagen, Funktionsprinzipien, Bauformen und Kenngrößen bis hin zu adäquaten integrierten Schaltungstechniken für die Auslesung und den Betrieb der Sensoren und Aktuatoren. Beispiel für die diskutierten Gebiete sind u.a. integrierte Temperatursensoren, PTAT (proportional to absolute temperature)-Schaltungen, genauigkeitsbegrenzende Artefakte und deren Kompensation, elektrothermische Filter, Photodioden und Photodiodenarrays für CMOS-Kameras, CCD, aktive Pixel und deren Arbeitsweise, CMOS-Imaging, Beschleunigungssensoren (Accelerometer) und Gyroskope, MEMS-Technologie, Digital Micro Mirror Arrays, DLP Technologie. Die IV wird in englischer Sprache abgehalten.
Im „Messtechnik-Praktikum MT II" werden Techniken, die in den LV besprochen werden, praktisch umgesetzt und untersucht.
